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半导体芯片工艺设备
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膜厚测量仪
日期:2020-3-11 9:50:26 点击:2142

品牌

产地

展示型号

 

品牌1

NANO

美国

NanoSpecII

详情请来电咨询

 

品牌:NANO(美国)

全自动膜厚测试仪(NanoSpec II)

 

 

 

产品描述:

NanoSpec II扩展了业界公认的NanoSpec系列的范围和性能,引入了一种新型设计,具有自动化样品对准,快速自动对焦和测量重复性优于 

NanoSpec II结合Nanometrics功能强大的重新设计的光谱反射率分析软件NanoDiffract®,自动图案对准的图像处理和各种光学配置选项,使NanoSpec II实现了同类中强大的薄膜测试系统的自动化。


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