产品介绍 Product introduction

1.  适用于各种封装的IGBT模块、SiC模块、二极管模块等进行PCsec、PCmin、KFactor、Rth/Zth、SOA、瞬态热阻曲线试验。
2.  符合IEC-60749、AQG-324等试验标准要求。

技术特点 Technical characteristics

1.  高精度和高稳定性，可替代国外设备。
2.  采样速率1MHz/s;最快1us去掉加热电流。
3.  支持双界面热阻测试和结构函数测试。
4.  支持多种方式实现SiC器件功率循环。