品牌：Quatek

快速EL特性测试系统（型号：M2442）

特点：

1. 2”~6” LED EL特性Wafer Level量测， 可测试亮度，波长，色座标， 半高宽，电学参数等参数

2. LED Wafer 平均分布5点， 9点或更多点位置量测

3. 6ψ大面积探针保证接点安全， 防止人工点铟球误差

4. 密闭式测试环境，屏敝外界光影响， 测试精度高

5. 电子切换开关，接触电阻低，寿命长

6. 搭配两款测试主机皆可实现自动测试， 数据存储分析功能。

系统配置：

ü M2442S-9A 9点自动测试平台

ü 桌上型电脑（含测试软体）

ü 9点点铟球对位治具

ü 测试主机（可选）：

Ø 维明LED617HC LED光电参数测试仪

Ø GAMMA GS-1190光谱仪+

Ø Keithley 2400源表