产品介绍 Product introduction

1. 系统能满足各种封装形式的SiC材料的MOSFET等器件试验。
2. 试验线路及试验方法满足AQG-324、JEP-184等试验标准要求。

技术特点 Technical characteristics

1. 数据库加载导入，自动完成试验过程，方便操作使用;
2. 被试器件DUT老化电源采用分区统一供给，程控方式;
3. 可根据用户的需求，定制各种夹具及测试程序。